自動炭塊電阻率測定儀

自動炭塊電阻率測定儀   型號：ISO-III
本儀器是用于測定鋁用陰、陽炭塊電阻率的設備。 
研制依據 
該設備依據標準ISO11713進行設計制造（國內行業標準為YS/T63.2-2006）.ISO11713標準中規定鋁用炭素材料中陰炭塊和預焙陽室溫下電阻率的測定方法是：采用穩定直流電流通過一定橫截面積的固定樣品，測出兩個截面之間的電壓降，計算出該試樣的電阻率。 
設備概述 
本公司采用美國進口的氣動探針組，十萬次伸縮*。采用良好的氣動探針組，并利用氣動方法使一次動作、四個探針組同時自動接觸試樣表面，來獲得四組不同的電阻率。這樣可以保證測試結果導電率的zui大平均性，測試方法自動、簡單、可靠。 
設備主要技術指標 
測定方法：按照ISO-11713規定（YS/T63.2-2005） 
樣品長度：130±0.2mm 
樣品直徑：50mm±0.09mm 
測試電間距：50mm 
測量電流：5A 
電流測量精度：0.01A 
電壓測量精度：0.5%mV 
電源電壓：220V，50Hz 
設備功率：100w 
設備尺寸：950×450×630mm 
設備重量：30kg 
重復性：r＜1.0μΩm自動炭塊電阻率測定儀

產品名稱：智能片劑四用儀  產品型號：SY-3CZ

智能片劑四用儀 型號：SY-3CZ         
智能片劑四用儀，分別用于藥片的硬度、脆碎度、崩解時限、溶出度的測試，是其理想的一機多用藥檢測試儀器。  
●溶出數量　　３個  
●溫控范圍　　（２０～４０）℃±０．３℃  
●調速范圍　　（２０～２００）ｒｐｍ±２ｒｐｍ  
●定時范圍　　（１～９００）ｍｉｎ±０．５ｍｉｎ  
●槳桿擺動　　±０．５ｍｍ  
●轉籃擺動　　±１．０ｍｍ  
●吊籃數量　　２個  
●往返頻率　　（３０～３２）次／分  
●往返行程　　（５５±２）ｍｍ  
●圓筒數量　　１個  
●圓筒尺寸　　內徑２８６ｍｍ　深度３９ｍｍ  
●滑落高度　　１５６ｍｍ  
●圓筒速度　　（２５±１）轉／分  
●圓筒圈數　　（１００±１）圈  
●硬度范圍　　（２～１９９）Ｎ±１Ｎ  
●直徑范圍　　（ ３～４０）ｍｍ  
●電源　　　　２２０Ｖ／５０Ｈｚ／６００Ｗ  
●外型尺寸　　（５２×３８×４７）ｃｍ３  
主要特點:  
●智能化，自動控制、自動檢測、自動診斷、自動報警。  
●采用磁性水泵循環水流勻熱系統，水浴溫度均勻。  
●自動控制溫度，溫控精度高。  
●自動控制時間，自動定時停機。  
●可以隨意預置參數；分時顯示預置值和實時值。  
●溶出三杯三桿，一字單排；機頭部分手動翻轉，平穩靈活。  
●溶出轉藍及槳桿等采用進口ＳＵＳ３１６Ｌ不銹鋼。  
●崩解兩路同時運行，自動定時停機。  
●脆碎自動控制圓筒旋轉速度及轉動圈數控制精度高。  
●硬度高精度壓力傳感器，數字顯示硬度值。  
●連續測量片劑的硬度值，人工裝片，電機控制,自動加壓。  
●自動顯示，自動鎖存，自動復位，自動循環測試  
 

產品名稱：砂表面硬度計/砂表面硬度儀  產品型號：TC-SYS-B

砂表面硬度計/砂表面硬度儀     型號：TC-SYS-B 
TC-SYS-B型砂表面硬度計用于測定砂型（芯）的表面硬度  

　　　　壓縮行程　　　　２.５毫米  
　　　　大負荷　　　　９８０克  
　　　　預壓負荷　　　　５０克  
           壓頭球形　　　　Ｒ為１２.７  
TC-SYS-A、TC-SYS-B、TC-SYS-C型硬度計 
一、概述 A、B、C三種型號的砂型表面硬度計，是用來測定濕模砂型（芯） 的表面硬度，為制訂造型工藝提供技術參數，其結構由帶齒條壓頭（1）、表頭（2）、表殼（3）、計力彈簧（4）、傳動齒輪（8）、回轉齒輪（14）、指針（15）、調整圈（16）等組成。A型：于手工或機械低中壓造型的細砂型（芯）的表面硬度測試。B型：于手工或機械低中壓造型的細、粗砂型（芯）的表面硬度測試。C型：于造型的砂型表面硬度測試。 
二、主要技術參數 
 1、精度：（1）       準確度：±2.5% 
（2）       指針指向100和恢復零位允許 ±0.5格。 
（3）       工作環境溫度：5-50℃ 
 2、外形尺寸：67.5X48.5X29 
 3、技術參數： 
名稱/參數/型號A型B型C型 
壓縮行程250MM2.50MM2.50MM 
大負荷237g980g1500g 
予壓負荷90g50g180g

產品名稱：雜質濃度測試儀 產品型號： KDB-1A

產品簡介 
原理：根據硅、鍺單晶的遷移率、電阻率和雜質濃度的關系，可直接測量、計算出晶體內的雜質濃度。  
范圍：它適合于測量橫截面尺寸是可測量的，而且棒的長度大于橫截面線度的有規則的長棒，例如橫斷面為圓形、正方形、長方形或梯形的單晶或多晶錠。  
用途：根據測量沿錠長雜質濃度的分布狀況決定產品的合格部分，通過雜質濃度的直接測量，決定晶體生長過程中的摻雜數量。  
樣品可在常溫或低溫下測量。  
顯示方式：儀器連接PC機，通過測試軟件計算，用對數坐標的方式來顯示雜質濃度（含次方數）沿錠長的分布曲線，可對曲線圖進行打印和保存。  
測量范圍： 可測晶體電阻率：0.005-3000Ω·cm。  
直流數字電壓表測量范圍：0-199.99mV，靈敏度：10μA。